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文章詳情
紫外輻照計的技術參數
日期：2025-04-30 06:47
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摘要：
紫外輻照計
適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。本機型為便攜式,有單通道和雙通道兩種。
主要性能指標:
波長范圍及峰值波長（任選一種）:
（1）UV－365探頭：λ：(320～400)nm；λP＝365nm
（2）UV－420探頭：λ：(375～475)nm；λP＝420nm
輻照度測量范圍：(0.1～199.9×103)μW/cm2
紫外帶外區(qū)雜光：UV365：小于0.02％
UV420：小于0.02％
余弦特性：符合國家...
紫外輻照計
適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。本機型為便攜式,有單通道和雙通道兩種。
主要性能指標:
波長范圍及峰值波長（任選一種）:
（1）UV－365探頭：λ：(320～400)nm；λP＝365nm
（2）UV－420探頭：λ：(375～475)nm；λP＝420nm
輻照度測量范圍：(0.1～199.9×103)μW/cm2
紫外帶外區(qū)雜光：UV365：小于0.02％
UV420：小于0.02％
余弦特性：符合國家二級光照度標準
準確度：±10％
響應時間：1秒
使用環(huán)境：溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg
電源：9V積層電池（6F22型）一只
